単体テストと残存バグ

ISO関連の資料をまとめるために、全クラス数とテストクラス数とバグ数の統計を計算した。
全部のクラスでテストを作っているわけではなくて、作りやすいところだけテストを作っている。クラス数とテストクラス数の比と、クラスあたりのバグ発生率を比較したところ、テスト作成比率が高いほうが、明らかにバグ発生率が少なくなっている。
ま、テストを作りやすいところはバグが発生する要素が少ない(設計にしやすい)部分ではあるのかもしれないけど。